发明专利 已授权

光学三坐标测量机路径规划方法、系统、电子设备及介质

📄 申请号:CN202310919635.0 📄 发布日:2025/11/18

著录项目信息

申请日
2023-07-26
公开号
CN116625242B
公开日
2023-10-03
申请人
青岛科技大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号

技术画像

应用场景

工业测量, 质量检测, 智能制造, 精密制造

摘要

本发明公开一种光学三坐标测量机路径规划方法、系统、电子设备及介质,涉及测量路径规划领域,方法包括:建立世界坐标系下被测零件的三维模型;确定三维模型的初始测量视点集;基于光线跟踪算法,对初始测量视点集进行筛选,确定有效测量视点集;根据有效测量视点集,利用蚁群算法和包围盒树,确定光学三坐标测量机的测量路径;光学三坐标测量机根据测量路径,测量被测零件的尺寸。本发明提高了规划光学三坐标测量机测量路径的精确度。

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是的,该专利已下证,法律状态为“已下证”,公开号: CN116625242B

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图2
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