发明专利已授权

一种用于光电子芯片测试的可配置结构

📄 申请号：CN202410255845.9 📄 发布日：2025/11/16

著录项目信息

申请日

2024-03-06

公开号

CN118112395A

公开日

2024-05-31

申请人

武汉工程大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01R31_28

IPC 分类号

G01R31_28 , G01R1_04 ,

技术画像

所属领域

光电子芯片光电子芯片芯片测试可配置测试结构

应用场景

光电子芯片测试, 光通信设备, 数据中心, 半导体生产测试, 科研实验

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摘要

本发明涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种用于光电子芯片测试的可配置结构，在使用时，将待检测的光电子芯片放置到两个限位板之间，然后启动驱动电机带动第一螺杆转动，使得第一螺杆带动两个限位板相互靠近，以使得两个限位板将光电子芯片夹紧，然后启动气缸带动滑动板移动以带动光电子芯片靠近导通结构，以使得光电子芯片和高频电路板接触以导通，然后通过接头和外部装置进行连接以对光电子芯片进行测试，从而方便地对光电子芯片进行定位，以使得光电子芯片更加准确地和高频电路板对接，从而提高测试效率。其中导通结构是通过限位板安装到安装台上的，因此若是要测试不同的光电子芯片，则拆下限位块进行更换。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置

当前第 / 件

一种利用微波等离子体化学气相沉积技术在钽铌酸钾晶体上制备金刚石薄膜的方法

同领域国内专利 · IPC: (G01R31_28)

G01R31_00 G01R31_01 G01R31_02 G01R31_08 G01R31_11 G01R31_12 G01R31_14 G01R31_16 G01R31_18 G01R31_24 G01R31_26 G01R31_265 G01R31_28 G01R31_317 G01R31_3177 G01R31_3185 G01R31_327 G01R31_34 G01R31_36 G01R31_364 G01R31_367 G01R31_378 G01R31_379 G01R31_382 G01R31_3835 G01R31_3842 G01R31_385 G01R31_387 G01R31_388 G01R31_389 G01R31_392 G01R31_396 G01R31_40 G01R31_42 G01R31_44 G01R31_50 G01R31_52 G01R31_54 G01R31_55 G01R31_56 G01R31_58 G01R31_62 G01R31_64 G01R31_66 G01R31_67 G01R31_68 G01R31_69 G01R31_72 覆盖48个领域

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