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发明专利
已授权
一种在InP衬底上外延生长II型GaSb/InGaAs量子点的方法
📄 申请号:CN201410069486.4
📄 发布日:2026/08/03
著录项目信息
申请日
2014-02-27
公开号
CN103820848B
公开日
2016-09-21
申请人
华南师范大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
C30B23_02
IPC 分类号
C30B23_02
,
C30B29_52
,
B82Y40_00
,
技术画像
所属领域
量子点
量子点
应用场景
光通信器件, 半导体激光器, 红外探测器, 光电子集成, 量子点光电器件
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摘要
本发明公开了一种II型GaSb/In0.53Ga0.47As量子点超晶格材料及其生长方法,该超晶格材第一层为生长在InP衬底上的In0.53Ga0.47As缓冲层,第二层为GaSb量子点,第三层为In0.53Ga0.47As缓冲层,第四层为GaSb量子点;其生长方法为先在InP衬底表面生长缓冲层后,生长4~5ML GaSb量子点,再生长缓冲层,最后再生长4~5ML GaSb量子点;本发明实现了采用MBE技术在InP衬底上以S‑K模式生长获得GaSb/In0.53Ga0.47As量子点,其形貌质量好、光学性能佳;本发明方法有效避免了As‑Sb互换,显著降低了晶格失配度和Ga原子迁移。
权利要求书 (12项)
说明书
附图
……
……
图1
图2
图3
法律状态时间线
20200710
?? 专利权的转移 :
20200623
?? 专利权的转移 :
20160921
✅ 授权
20140625
?? 实质审查的生效 :
20140528
📄 公开
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