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发明专利
已授权
一种具有电场和载流子调制的MOSFET器件
📄 申请号:CN202510348018.9
📄 发布日:2026/08/27
著录项目信息
申请日
2025-03-24
公开号
CN120091608B
公开日
2025-11-18
申请人
重庆邮电大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
H10D30_66
IPC 分类号
H10D30_66
,
H10D64_27
,
H10D62_10
,
技术画像
所属领域
半导体器件
半导体器件
场效应晶体管
功率半导体器件
应用场景
电源管理, 功率转换, 集成电路, 消费电子, 新能源汽车
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摘要
本发明涉及一种具有电场和载流子调制的MOSFET器件,属于半导体器件技术领域。该器件在栅极的多晶硅掺杂区和漏极N+区之间加入P‑pillar区形成了超结延伸栅,通过引入超结延伸栅,使得器件在正向导通情况下,栅极加正电压并将电压延伸至整个P‑pillar,器件在漂移区内靠近氧化层区域形成了电子积累区,从而降低了器件比导通电阻、提高了跨导;而在阻断耐压的情况下,器件漏极加高压,P‑pillar区和漂移区之间会产生相互耗尽的作用,共同调制优化MOSFET器件漂移区的电场分布,使器件得到较高的击穿电压BV,从而获得更高的器件优值,最终改善器件的静态性能。
权利要求书 (12项)
说明书
附图
……
……
图1
图2
图3
法律状态时间线
一种集成双自偏置MOS的SiC MOSFET器件
当前第 / 件
一种引入深沟槽和自偏置PMOS的SOI-LIGBT器件
同领域国内专利 · IPC: (H10D30_66)
H10D30_47
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