发明专利已授权

一种三基准体系下直径要素-宽度要素基准组合遵循公差相关要求的检验公差带计算方法

📄 申请号：CN201810649310.4 📄 发布日：2026/07/23

著录项目信息

申请日

2018-06-22

公开号

CN109086252A

公开日

2018-12-25

申请人

杭州电子科技大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G06F17_18

IPC 分类号

G06F17_18

技术画像

所属领域

几何公差几何公差公差带计算计量检测

应用场景

机械制造, 精密测量, 质量检验, 智能制造, 数字化检测

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摘要

本发明提出一种三基准体系下直径要素‑宽度要素基准组合遵循公差相关要求的检验公差带计算方法，包括：S1，对全部基准要素分别建立D_DFS和M_DFS；全部基准要素由一个平面要素、一个直径要素和一个宽度要素组成；S2，根据D_DFS构件建立设计坐标系，根据M_DFS构件建立测量坐标系；S3，根据D_DFS构件和M_DFS构件装配后存在的相对运动建立设计坐标系和测量坐标系的相对运动关系；根据相对运动关系，定义转移公差和被测要素检验公差带；S4，采用变长曲柄平行四边形机构和摆杆机构的串联组合表示设计坐标系相对于测量坐标系的最大相对运动关系，根据机构的结构参数和性能参数，计算所述被测要素检验公差带。本发明所述方法不仅局限于单一基准遵循相关要求下转移公差的计算，具有较高的理论意义和使用价值。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

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当前第 / 件

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