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一种基于双线性插值原理确定发射层析权重矩阵的方法

Name: 一种基于双线性插值原理确定发射层析权重矩阵的方法
Brand: 西安工业大学
SKU: 2019105919994
Availability: InStock

📄 申请号：CN201910591999.4 📄 发布日：2026/07/23

著录项目信息

申请日

2019-07-02

公开号

CN110400253B

公开日

2023-03-17

申请人

西安工业大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G06T3_00

IPC 分类号

G06T3_00

技术画像

所属领域

图像重建图像重建层析成像医学图像处理

应用场景

医学影像重建, 核医学成像, PET成像, SPECT成像, 层析成像

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摘要

本发明涉及一种基于双线性插值原理确定发射层析权重矩阵的方法，首先获得发射层析的三维投影模型；然后将投影积分离散化表示；最后利用双线性插值原理确定层析系统的权重矩阵。本发明方法得到了用于准确描述发射层析投影的三维空间二维Radon变换模型，为三维层析重建提供了理论基础；该方法基于双线性插值原理确定权重矩阵的原理简单，计算效率高，可以快速获得权重矩阵数值；其计算结果精确度高，可以减少计算过程中的离散引起的干扰，大大增加计算结果的准确性；本发明方法不仅能够用于三维空间中的二维Radon变换，对于传统的二维层析技术中的权重矩阵计算同样适用。

常见问题

这项专利是否已经下证？

是的，该专利已下证，法律状态为“已下证”，公开号： CN110400253B

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该专利的转让价格是多少？

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权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

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当前第 / 件

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议价

不含过户费

📋 交易方式： 委托待转让 📌 交易状态：在售 👁️ 浏览次数：112 ❤️ 收藏人数：93 📋 项目申报： 未申报

资金托管权属尽调包过户

🏢 淄博智来知识产权服务有限公司

✓ 企业认证✓ 手机绑定历史成交 2657件好评率 98.5%

📊 出价记录 (3条)

王**¥-10万

李** 企业¥-8万

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