发明专利 已授权

一种芯片耐性测试机器

📄 申请号:CN202311264135.4 📄 发布日:2026/07/10

著录项目信息

申请日
2023-09-28
公开号
CN116990151B
公开日
2023-12-12
申请人
江苏晖恒芯片科技有限责任公司
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

芯片制造, 半导体封装测试, 电子元器件检测, 可靠性验证, 质量检测

摘要

本发明属于芯片测试技术领域,具体公开了一种芯片耐性测试机器,包括测试主轴、挡护板、支座、内串联型供能机构和热磁双增型测试机构,所述挡护板对称设于测试主轴两侧,所述支座设于挡护板远离测试主轴的一侧,所述内串联型供能机构设于测试主轴外侧,所述热磁双增型测试机构设于挡护板侧壁,所述内串联型供能机构包括分角受磨机构、驱动起热机构和导热串联机构,所述分角受磨机构设于测试主轴外侧。本发明提供了一种能够检测处芯片在不同功率设备上的运行情况,进而可以清晰的分辨出不同型号的芯片所能够承受的最大强度的芯片耐性测试机器。

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:86 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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