发明专利 已授权

一种红外焦平面阵列测姿图像缺陷像素修复方法、装置

📄 申请号:CN202610107027.3 📄 发布日:2026/08/10

著录项目信息

申请日
2026-01-27
公开号
CN121582116B
公开日
2026-04-17
申请人
南京信息工程大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

所属领域

应用场景

红外成像系统, 飞行器姿态测量, 航天测姿, 图像质量增强

摘要

本发明公开了一种红外焦平面阵列测姿图像缺陷像素修复方法、装置,属于红外成像与图像处理技术领域,包括:对含有故障缺陷的红外焦平面阵列测姿图像逐行、逐列进行线性拟合,计算行残差平方和与列残差平方和;将行残差平方和与列残差平方和按照降序排列,取前K个最大残差对应的行、列交集,生成缺陷像素的初始定位掩膜;对每一个缺陷像素,在横向、纵向及双对角线四个一维窗口内自适应禁用污染方向,并利用未被污染的像素样本建立多方向的鲁棒回归模型,外推得到该缺陷像素的多方向预测值;利用每个缺陷像素的多方向预测值的平均值作为该缺陷像素的修复灰度值。本发明能在单帧、无训练、无外部参考条件下实现缺陷盲诊断与高精度修复。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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