摘要
本实用新型涉及芯片生产技术领域,具体公开了一种芯片测试用工装。一种芯片测试用工装,包括工装支架、芯片本体、控制器、检测装置,所述工装支架顶部设置有芯片进料口,芯片本体与芯片进料口插接;工装支架上安装有链板输送机。本实用新型,通过链板输送机能够将多个芯片本体送入到工装支架内部,通过上料机构内各部件的相互配合,能够将完成测试的芯片本体推走,同时将芯片本体送入到测试台处,通过升降机构内各部件的相互配合,能够对芯片本体的位置进行固定,同时能够将芯片本体与检测装置连接,检测的速度大大提升,上料过程中平稳,芯片本体之间不会出现相互摩擦,能够避免芯片本体的磨损,加快检测的速度。