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发明专利
已授权
一种自校正的IGBT健康监测方法
📄 申请号:CN202011312743.4
📄 发布日:2025/12/10
著录项目信息
申请日
2020-11-20
公开号
CN112285521B
公开日
2021-07-27
申请人
电子科技大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
G01R31_26
IPC 分类号
G01R31_26
技术画像
所属领域
功率半导体器件
功率半导体器件
健康状态监测
电力电子可靠性
应用场景
新能源发电, 电动汽车, 储能系统, 工业电机驱动, 轨道交通牵引
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摘要
本发明公开了一种自校正的IGBT健康监测方法,其包括以下步骤:S1、建立老化数据采集平台;S2、建立原始老化特征数据库;S3、获取目标IGBT在工作环境中的初始状态;S4、获取集电极与发射极间的电压差值;S5、生成校正参数函数;S6、校正原始老化特征数据库;S7、通过将目标IGBT的集电极与发射极间的电压与校正后的老化特征数据库中同工作条件下的集电极与发射极间的电压进行比较,完成IGBT的健康监测。本发明考虑了IGBT个体差异对于Vce,on测量值分析产生的影响,建立了具有校正补偿性的参数函数模型,提高了电力电子系统中对于IGBT参数分析的准确性,减小了由于个体差异引起误差提供了监测精度。
权利要求书 (12项)
说明书
附图
……
……
图1
图2
图3
法律状态时间线
一种IGBT过流预警系统及方法
当前第 / 件
一种绝缘栅器件阈值电压的不停机测量方法
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