发明专利 已授权

一种集测试与分选功能一体化的芯片加工用装置

📄 申请号:CN201910738921.0 📄 发布日:2025/11/29

著录项目信息

申请日
2019-08-12
公开号
CN110456253B
公开日
2021-07-27
申请人
安徽龙芯微科技有限公司
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

芯片测试, 芯片分选, 半导体封装测试, 集成电路制造, 电子元器件检测

摘要

本发明公开了一种集测试与分选功能一体化的芯片加工用装置,包括工作台,所述工作台为箱式结构,且在工作台的内部设置有控制箱,所述工作台的台面一侧设置有液晶显示屏和声光报警器,且在工作台的台面中间位置固定架设有测试箱,所述测试箱的左右两侧均开设有供载物板穿过的矩形通道,通过在载物板上设置四个完全一致的芯片放置盘,将待检测的芯片放置在芯片放置盘上,当载物板传送到测试箱的内部时,根据载物板上芯片的位置调整十字测试板的位置,从而使十字测试板每个边角上的检测探针完成对芯片的检测,从而实现一次测试完成对四个芯片的同步检测,提高了芯片的测试效率,通过检测探针自动检测,降低了检测人员的工作强度。

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这项专利是否已经下证?

是的,该专利已下证,法律状态为“已下证”,公开号: CN110456253B

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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