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本实用新型涉及探针测试台技术领域，具体为一种半导体探针测试台，探针台下方设有底座，底座内设有用于带动探针台旋转的旋转组件、用于驱动旋转组件旋转的驱动组件以及用于带动探针台升降的升降组件。通过电机驱动主动齿轮转动，再利用主动齿轮带动从动齿轮转动，这样从动齿轮通过轴杆带动转盘转动，可使转盘利用底缸和滑杆带动探针台旋转调节朝向，探针台旋转调节后，不妨碍探针台的升降调节，而通过电动推杆使插块插入环形滑道，圆板滑入外限位环与内限位环之间，可以将探针台顶起进行升降调节，并且升降调节后，还不妨碍探针台旋转调节，这样使用较为方便，解决了目前的探针台旋转较为不便以及高度难以调节的问题。

本实用新型公开了一种全自动旋转探针台，其包括：底座、载台、滑座、升降座、悬臂、探针和压环，所述底座上设置有环形轨道，所述滑座可滑动地设置在环形轨道上，所述载台设置在底座上并位于环形轨道的内侧，所述升降座可升降地设置在滑座上，所述升降座上横向设置有第一导向套，所述悬臂设置在第一导向套中并延伸至载台上方，所述第一导向套前端设置有指向下方载台的第二导向套，所述探针设置在第二导向套中，所述滑座一侧设置有电机，所述底座上设置有与环形轨道同心的环形齿条，所述电机的转轴上设置有与环形齿条啮合的齿轮。本实用新型所述的全自动旋转探针台，可以围绕载台上的被测物进行旋转，改变探针的位置，提升了测试效率。

本实用新型涉及硅片测试技术领域，具体涉及硅片自动测试设备，其技术方案是：包括电阻率测试仪主机和阻率测试仪主机电性连接的四探针探头，还包括控制组件、放置板、固定安装在放置板上的护栏组件以及设置在护栏组件上的升降机构，所述升降机构包括设置在护栏组件上的传动组件以及与传动组件螺纹连接的安装组件，所述四探针探头固定安装在安装上，本实用新型的有益效果是：可实现工作人员将硅片放置在放置板上自动对硅片进行电阻率测试，可对不同厚度的硅片均可进行测试，自动化程度高，极大的减少人工工作量，且安全防护性高，可避免四探针探头压到工作人员手。

本实用新型公开了一种硅片测试用固定工装，包括底座，所述底座顶部焊接第一固定块，所述第一固定块顶部通过转轴连接第二固定块，所述第二固定块顶部固定连接挤压环，所述挤压环底部焊接铁环，所述底座顶部固定连接限位环，所述限位环顶部开设第二凹槽。该一种硅片测试用固定工装，通过在底座顶部焊接第一固定块，随后为底座顶部固定连接限位环，在限位环顶部开设第二凹槽，在第二凹槽内部粘接磁铁环，铁环底部贴合于磁铁环顶部，当为硅片固定时，可先将硅片放置在限位环内部，随后利用转轴旋转挤压板，此时利用磁铁环和铁环之间的磁吸效应为挤压环实现固定效果，同时挤压板会为硅片垂直方向的固定，使用时使得硅片的固定效果更加稳定。

本发明公开了一种集测试与分选功能一体化的芯片加工用装置，包括工作台，所述工作台为箱式结构，且在工作台的内部设置有控制箱，所述工作台的台面一侧设置有液晶显示屏和声光报警器，且在工作台的台面中间位置固定架设有测试箱，所述测试箱的左右两侧均开设有供载物板穿过的矩形通道，通过在载物板上设置四个完全一致的芯片放置盘，将待检测的芯片放置在芯片放置盘上，当载物板传送到测试箱的内部时，根据载物板上芯片的位置调整十字测试板的位置，从而使十字测试板每个边角上的检测探针完成对芯片的检测，从而实现一次测试完成对四个芯片的同步检测，提高了芯片的测试效率，通过检测探针自动检测，降低了检测人员的工作强度。

本实用新型公开了一种悬臂探针卡用调针机，包括支座、第一滑道和伸缩杆，所述支座的外壁安装有伸缩杆，所述伸缩杆的输出端安装有支撑板，所述支撑板的内壁安装有电机，所述电机的输出端安装有转盘，所述转盘的内壁安装有第一滑道，所述第一滑道的内壁安装有第一滑轮。本实用新型通过安装有第一弹簧、卡杆和滑块，实现了物料快速卡紧的效果，支块的作用是为第一弹簧提供支撑，推动卡杆移动带动第一弹簧移动，第一弹簧移动带动滑块移动，滑块移动带动第一滑轮移动，第一滑轮移动使卡杆张开，物料放置完成后松开卡杆使第一弹簧拉动卡杆回弹，卡杆回弹带动滑块移动，滑块移动使防护块与物料卡紧实现物料快速卡紧，实现了物料快速卡紧的功能。

本实用新型公开了一种探针卡加工用磨针机，包括承载台和固定座，所述承载台的顶部安装有固定座，所述固定座的顶部安装有滑动座，所述滑动座的顶部高精度直驱电机；所述高精度直驱电机的正面安装有齿轮框；所述齿轮框的正面嵌入安装有调节夹座。本实用新型通过安装有调节夹座，探针放置在夹具槽内部后，外侧的调节推杆将会自动收缩并且带动输出端的调节套圈移动并且收紧调节夹座，从而对探针结构进行固定，无需工作人员手动进行安装，大大缩短的探针的安装时间，从而有效的提升了加工打磨的效果。