发明专利已授权

一种用于超声扫描显微镜的定位系统和方法

Name: 一种用于超声扫描显微镜的定位系统和方法
Brand: 武汉工程大学
SKU: 2018108983254
Availability: InStock

📄 申请号：CN201810898325.4 📄 发布日：2025/11/16

著录项目信息

申请日

2018-08-08

公开号

CN108872399B

公开日

2023-12-26

申请人

武汉工程大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01N29_265

IPC 分类号

G01N29_265

技术画像

所属领域

显微镜超声检测定位系统自动控制系统显微镜

应用场景

无损检测, 材料检测, 半导体检测, 工业质检

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摘要

本发明涉及一种用于超声扫描显微镜的定位系统和方法,该系统包括固定设置于超声扫描显微镜的水槽前方且与所述水槽的前面板平行的X方向定位组件,以及固定设置于所述水槽侧方且与所述水槽的侧面板平行的YZ方向定位组件,所述X方向定位组件和所述YZ方向定位组件分别与处理器电连接;所述处理器,用于根据所述X方向定位组件对所述水槽内待测件的测量值获得所述待测件的X方向定位数据,并根据所述YZ方向定位组件对所述待测件的测量值分别获得所述待测件的Y方向定位数据和Z方向定位数据。本发明提供的技术方案可准确获知待测件在超声扫描显微镜水槽中的位置,从而提高探头位置调节效率并避免探头与待测件发生碰撞。

常见问题

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权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

一种用于超声扫描显微镜的去气泡设备

当前第 / 件

一种用于超声扫描显微镜的定位仪

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