发明专利已授权

气动光学热辐射效应校正方法、装置、设备及存储介质

Name: 气动光学热辐射效应校正方法、装置、设备及存储介质
Brand: 武汉工程大学
SKU: 2022104175940
Availability: InStock

📄 申请号：CN202210417594.0 📄 发布日：2026/09/28

著录项目信息

申请日

2022-04-21

公开号

CN114529481B

公开日

2022-07-26

申请人

武汉工程大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G06T5_00

IPC 分类号

G06T5_00 , G06T7_90 ,

技术画像

所属领域

其他分类其他

应用场景

高速飞行器光学成像, 飞行器制导与导航, 气动热环境监测, 航空航天光学探测, 红外成像校正

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摘要

本发明涉及一种气动光学热辐射效应校正方法、装置、设备及存储介质，其方法包括：获取气动光学热辐射退化图像，并对退化图像进行滤波操作得到滤波图像；对滤波图像进行下采样处理并生成离散点；对离散点使用基于移动最小二乘法曲面拟合法拟合出初始偏置场曲面；将初始偏置场曲面输入预先建立的退化模型中，并使用交替迭代最小法输出满足预设迭代条件的校正图像及偏置场。本发明中输出的校正图像更清晰，提升了校正效果。

常见问题

这项专利是否已经下证？

是的，该专利已下证，法律状态为“已下证”，公开号： CN114529481B

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该专利的转让价格是多少？

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权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

一种空中非合作目标气球要害点快速的检测方法

当前第 / 件

多尺度自校准气动光学效应湍流退化图像复原方法及系统

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