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摘 要:本发明涉及芯片封装技术领域,具体涉及一种球栅阵列封装芯片热应力仿真方法。本发明对球栅阵列封装芯片热应力进行仿真,建立球栅阵列封装模型,反映非弹性应变与施加荷载的关系。芯片焊点受到约束条件作用,其应力应变响应随载荷变化呈现出线性变化趋势。对封装芯片进行热应力仿真,预测焊点在热循环下的疲劳寿命。实验表明此次仿真输出的芯片焊点疲劳寿命高于现有仿真方法,并更接近芯片标准寿命,因此更具有可靠性,有利于实际芯片产品设计。本发明提出的热应力仿真方法提高芯片焊点可靠性,输出的芯片焊点疲劳寿命高于现有方法,输出结果比较理想,更接近于芯片标准寿命,有利于提高芯片设计可靠性。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202311298240.X | 专利名称: | 一种球栅阵列封装芯片热应力仿真方法 |
申请日: | 2023-10-09 | 申请/专利权人 | 南通大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 江苏省南通市崇川区永福路79号1幢南通大学技术转移研究院 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G06F30/398搜分类 半导体搜索 |
公开/公告日: | 2024-05-03 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN117313645B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |