发明专利已授权

一种基于集成电路芯片的稳定性测试方法和系统

📄 申请号：CN202210001109.1 📄 发布日：2025/10/14

著录项目信息

申请日

2022-01-04

公开号

CN114236363A

公开日

2022-03-25

申请人

深圳凯瑞通电子有限公司

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01R31_28

IPC 分类号

G01R31_28

技术画像

所属领域

集成电路测试集成电路测试半导体器件测试芯片可靠性测试

应用场景

芯片制造, 半导体测试, 电子产品质量控制, 集成电路设计验证

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摘要

本发明提出了一种基于集成电路芯片的稳定性测试方法和系统。所述稳定性测试方法包括：获取集成电路芯片的两个数值不同的第一基准被测信号和两个数值不同的第二基准被测信号；对两个数值不同的第一基准被测信号和第二基准被测信号进行测试分析获取所述集成电路芯片对应的shmoo图；通过不断调整所述集成电路芯片的运行输入条件参数，获得变化的运行输入条件参数和对应的输出参数信号，将运行输入条件参数和对应的输出参数信号分别作为第一监控信号组和第二监控信号组；实时分析第一监控信号组和第二监控信号组，并实时获取第二监控信号组的信号位点在shmoo图上的位置是否处于正常工作区域。所述系统包括与所述方法步骤对应的模块。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

20250304

✅ 授权

20220412

?? 实质审查的生效：

20220325

📄 公开

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