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摘 要:本发明涉及图像处理技术领域,具体涉及一种基于去反光效果的半导体晶圆加工质量检测方法,即获取晶圆表面的RGB图像并对其进行灰度化处理得到灰度图像,提取RGB图像中的R通道图像、G通道图像以及B通道图像;获取灰度图像与各通道图像的边缘图像,得到各边缘图像中的边缘点与连接类;根据边缘点,计算各通道图像的边缘图像与灰度图像的边缘图像的差异度;基于差异度计算互异性;根据互异性、边缘点与连接类计算各通道图像的细节保留程度;进而得到尺度影响因子,基于尺度影响因子获取各通道图像的尺度参数,对RGB图像进行去反光操作,将去反光操作后的RGB图像输入到神经网络模型中,输出晶圆的缺陷。本发明能够精确得到晶圆的缺陷。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202211009244.7 | 专利名称: | 一种基于去反光效果的半导体晶圆加工质量检测方法 |
申请日: | 2022-08-23 | 申请/专利权人 | 山东鲁芯之光半导体制造有限公司 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 山东省聊城市高新区九州街道天津路财金数字工厂 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G06T7/00搜分类 半导体搜索 |
公开/公告日: | 2022-09-20 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN115082477A | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
解除代理委托书(需盖公章)一式两份(如专利通过代理机构申请) | 解除代理委托书(需签字)一式两份(如专利通过代理机构申请) | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |