咨询电话:13280638997
传真:0533-3110363
邮箱:kefu@shizifang.com
摘 要:本发明公开一种基于EPI的光场图像特征点检测方法,具体按照以下步骤实施:步骤1,输入光场图像A和光场图像B并提取子孔径图像矩阵A和子孔径图像矩阵B;步骤2,分别提取子孔径图像矩阵A和子孔径图像矩阵B的EPI图像的EPI图像作为EPI图像集合A和EPI图像集合B;步骤3,对EPI图像集合A和EPI图像集合B进行特征点检测得特征点集合A和特征点集合B;步骤4,对特征点集合A和特征点集合B进行特征描述并进行归一化得到特征向量集合A特征向量集合B;步骤5,对特征向量集合A和特征向量集合B中相对应的特征向量进行特征匹配输出匹配点集合。本发明能够实现对光场图像的特征点检测和匹配且具有较高的匹配准确率。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202010071527.9 | 专利名称: | 基于光场图像的Hog特征检测与匹配方法 |
申请日: | 2020-01-21 | 申请/专利权人 | 西安理工大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 陕西省西安市碑林区金花南路5号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G06V10/50搜分类 配方 HO 检测搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
解除代理委托书(需盖公章)一式两份(如专利通过代理机构申请) | 解除代理委托书(需签字)一式两份(如专利通过代理机构申请) | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |
2023/04/18 | 授权 | |
2020/06/23 | 公开 |