发明专利 已授权

一种MOS管实现二极管的高阶温度补偿带隙基准电路

📄 申请号:CN201711057698.0 📄 发布日:2026/07/23

著录项目信息

申请日
2017-11-01
申请人
重庆邮电大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

集成电路设计, 电源管理, 传感器信号处理, 模拟前端, 高精度电压基准

摘要

本发明请求保护一种MOS管实现二极管的高阶温度补偿带隙基准电路,包括一阶带隙基准电路、高温区域温度曲率补偿电路、低温区域温度分段补偿电路以及启动电路。本发明采用源极、漏极与栅极短接的PMOS管的漏极与衬底分别构成二极管的正向端与反向端,利用源极、漏极与栅极短接的PMOS管的漏-衬底电压产生负温度系数电压VCTAT以及两个源极、漏极与栅极短接的PMOS管的漏-衬底电压之差产生正温度系数电压VPTAT,负温度系数电压VCTAT与正温度系数电压VPTAT进行加权获得一阶带隙基准电压,将高温区域温度曲率补偿电压VNL1以及低温区域温度分段补偿电压VNL2引入到一阶带隙基准电路,获得低温度系数的带隙基准电压,从而获得了一种MOS管实现二极管的高阶温度补偿带隙基准电路。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

20241018
?? 专利权的转移 :
20191112
✅ 授权
20180424
?? 实质审查的生效 :
20180330
📄 公开
议价
不含过户费

📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:6 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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