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发明专利
已授权
一种MOS管实现二极管的高阶温度补偿带隙基准电路
📄 申请号:CN201711057698.0
📄 发布日:2026/07/23
著录项目信息
申请日
2017-11-01
申请人
重庆邮电大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
G05F1_567
IPC 分类号
G05F1_567
技术画像
所属领域
模拟集成电路
模拟集成电路
带隙基准电路
温度补偿电路
应用场景
集成电路设计, 电源管理, 传感器信号处理, 模拟前端, 高精度电压基准
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摘要
本发明请求保护一种MOS管实现二极管的高阶温度补偿带隙基准电路,包括一阶带隙基准电路、高温区域温度曲率补偿电路、低温区域温度分段补偿电路以及启动电路。本发明采用源极、漏极与栅极短接的PMOS管的漏极与衬底分别构成二极管的正向端与反向端,利用源极、漏极与栅极短接的PMOS管的漏-衬底电压产生负温度系数电压VCTAT以及两个源极、漏极与栅极短接的PMOS管的漏-衬底电压之差产生正温度系数电压VPTAT,负温度系数电压VCTAT与正温度系数电压VPTAT进行加权获得一阶带隙基准电压,将高温区域温度曲率补偿电压VNL1以及低温区域温度分段补偿电压VNL2引入到一阶带隙基准电路,获得低温度系数的带隙基准电压,从而获得了一种MOS管实现二极管的高阶温度补偿带隙基准电路。
权利要求书 (12项)
说明书
附图
……
……
图1
图2
图3
法律状态时间线
20241018
?? 专利权的转移 :
20191112
✅ 授权
20180424
?? 实质审查的生效 :
20180330
📄 公开
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📋 交易方式:
委托待转让
📌 交易状态:
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📋 项目申报:
未申报
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