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摘 要:本发明公开了一种采用对称结构响应信号分析的无基准导波损伤监测方法,在板结构件上对称布置PZT压电阵列,阵列中的任意两个PZT压电元件分别作为激励器和传感器而组成一条监测路径;获得滤波后的结构响应信号,对滤波后的信号进行包络提取,定位响应信号中的各波包中心点位置;计算当前响应信号中第一个相似度低于阈值的波包中心点时刻,记录为当前响应信号的损伤散射信号到达时间;交换另一组响应信号为计算基准,记录该响应信号的损伤散射信号到达时间;获得所有对称路径下的损伤散射信号到达时刻,并计算出损伤位置。本发明不需事先采集健康状态下的结构响应信号作为基准,消除了对基准信号的依赖,降低了时变条件引起的监测误差,具有实用意义。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202011339159.8 | 专利名称: | 采用对称结构响应信号分析的无基准导波损伤监测方法 |
申请日: | 2020-11-25 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01N29/07搜分类 其他搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
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日期 | 法律信息 | 备注 |