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发明专利
已授权
一种磁光克尔信号测量方法
📄 申请号:CN201810429090.4
📄 发布日:2025/09/05
著录项目信息
申请日
2018-04-24
申请人
金华职业技术学院
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
G01R33_032
IPC 分类号
技术画像
所属领域
光学测量技术
光学测量技术
磁光效应
信号处理
应用场景
磁性薄膜检测, 磁存储器件表征, 自旋电子学研究, 材料表面磁性分析, 半导体检测
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摘要
本发明涉及材料表面磁性测量领域,一种磁光克尔信号测量方法,测量装置包括激光器、偏振控制器、隔离器、保偏环形器、偏振器、保偏光纤I、电光调制器、保偏光纤II、非球面镜、1/4波片、透镜台、原子力显微镜、探针、样品、磁体、样品台、电源、光电探测器、信号发生器、功率分配器I、计算机、低通滤波器、锁相放大器I、倍频器、功率分配器II、锁相放大器II、入射光路及反射光路,探针中具有通孔,采用同一束光的两个正交偏振分量干涉的方法来获得样品的克尔角的信息,减少了来自于装置本身的某些非磁性效应比如线性双折射和线性二色性对测量准确性的影响,主要光路都在光纤中,减少光路中的光学元件,降低了杂散光的影响,提高了信噪比。
权利要求书 (12项)
说明书
附图
……
……
图1
图2
图3
法律状态时间线
一种纳米结构磁性测量方法
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