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摘 要:本发明涉及材料表面磁性测量领域,一种磁光克尔信号测量方法,测量装置包括激光器、偏振控制器、隔离器、保偏环形器、偏振器、保偏光纤I、电光调制器、保偏光纤II、非球面镜、1/4波片、透镜台、原子力显微镜、探针、样品、磁体、样品台、电源、光电探测器、信号发生器、功率分配器I、计算机、低通滤波器、锁相放大器I、倍频器、功率分配器II、锁相放大器II、入射光路及反射光路,探针中具有通孔,采用同一束光的两个正交偏振分量干涉的方法来获得样品的克尔角的信息,减少了来自于装置本身的某些非磁性效应比如线性双折射和线性二色性对测量准确性的影响,主要光路都在光纤中,减少光路中的光学元件,降低了杂散光的影响,提高了信噪比。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201810429090.4 | 专利名称: | 一种磁光克尔信号测量方法 |
申请日: | 2018-04-24 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01R33/032搜分类 测量测绘搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 15000.0元 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |