发明专利已授权

一种纳米结构磁性测量方法

📄 申请号：CN201810429273.6 📄 发布日：2026/05/06

著录项目信息

申请日

2018-04-24

申请人

嘉兴诺恩医疗科技有限公司

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01R33_12

IPC 分类号

G01R33_12

技术画像

所属领域

磁性测量磁性测量纳米材料表征测试计量技术

应用场景

科研实验, 材料性能测试, 纳米器件检测, 质量控制

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摘要

本发明涉及物理测量技术领域，一种纳米结构磁性测量方法，测量装置包括激光器、分束器、凸透镜I、光电探测器、锁相放大器、棱镜偏振器、凸透镜II、保偏光纤I、电光调制器、保偏光纤II、凸透镜III、波片I、透镜台、原子力显微镜、探针、样品、磁铁、样品台、信号发生器、示波器、波片II、凸透镜IV、平面镜，采用同一束光的两个正交偏振分量干涉的方法来获得样品表面的磁化信息，两个偏振光分量共用一个光路，避免光束分离和重新汇集，能够相对较容易地保证两个光束以同样的光路传播，并减少光路中的光学元件，使得信号较少地受样品以及干涉环路中光学元件的移动影响，提高了信噪比，采用斜入射的光束测量克尔效应的纵向、横向和极向三个分量。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

20220513

?? 专利权的转移：

20220218

?? 专利权的转移：

20200519

✅ 授权

20181113

?? 实质审查的生效：

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当前第 / 件

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¥15000.0 元

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📋 交易方式： 委托待转让 📌 交易状态：在售 👁️ 浏览次数：58 ❤️ 收藏人数：93 📋 项目申报： 未申报

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