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本发明公开了一种测量分数阶关联涡旋光束拓扑荷的装置。包括：激光器产生分数阶关联涡旋光，调整光束光斑大小使其能覆盖全息型相位板；测量分数阶关联涡旋光的交叉谱密度函数(CCF)，并观测该函数空间中待测关联涡旋光横截面上分数拓扑荷(FTC)缺口位置；在空间光调制器上加载数字全息相位板并调整其方位角，使数字全息相位板产生的CCF缺口与待测关联涡旋的FTC缺口重合；使用小孔光阑选取空间光调制器反射出的一级衍射光；改变数字全息相位板的相位差；使待测光场CCF中FTC缺口与相位板缺口的重合处呈现：缺口出现‑缺口消失‑缺口出现；使用这三个现象所对应的相位差，计算FTC的小数部分，结合整数拓扑荷部分得出关联涡旋光分数阶拓扑荷的最终值。

本发明涉及材料表面磁性测量领域，一种磁光克尔信号测量方法，测量装置包括激光器、偏振控制器、隔离器、保偏环形器、偏振器、保偏光纤I、电光调制器、保偏光纤II、非球面镜、1/4波片、透镜台、原子力显微镜、探针、样品、磁体、样品台、电源、光电探测器、信号发生器、功率分配器I、计算机、低通滤波器、锁相放大器I、倍频器、功率分配器II、锁相放大器II、入射光路及反射光路，探针中具有通孔，采用同一束光的两个正交偏振分量干涉的方法来获得样品的克尔角的信息，减少了来自于装置本身的某些非磁性效应比如线性双折射和线性二色性对测量准确性的影响，主要光路都在光纤中，减少光路中的光学元件，降低了杂散光的影响，提高了信噪比。