发明专利已授权

物质表面性质参数测定方法

📄 申请号：CN200810232896.0 📄 发布日：2026/08/04

著录项目信息

申请日

2008-10-20

公开号

CN101393238B

公开日

2011-05-11

申请人

重庆为讯科学仪器有限责任公司

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01N33_24

IPC 分类号

G01N33_24

技术画像

所属领域

表面分析技术表面分析技术材料表征接触角测量

应用场景

材料研发, 表面处理, 涂层工业, 半导体制造, 生物医学

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摘要

本发明提供一种物质表面性质参数的通用测定方法，能在不同条件下对不同类型物质的表面电位进行准确测定，包括如下步骤：对待测物表面进行饱和处理；将经过饱和处理的待测物与指示电解质溶液混合；测定所述混合物的本体溶液中指示电解质阳离子及氢离子的平衡浓度值；根据指示电解质阳离子的平衡浓度值，计算物质表面电位；在进一步的技术方案中，还根据物质表面电位，计算物质比表面积、表面电荷密度，根据物质表面电荷密度，计算物质表面电场强度；根据物质表面电荷密度和比表面积，计算物质表面电荷总量；本发明的方法，是所属技术领域中首次获得的，能广泛适用于不同条件、不同电荷类型物质的表面性质参数的通用测定方法，并可实现联合测定。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

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当前第 / 件

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