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发明专利
已授权
RFID标签性能测试系统
📄 申请号:CN201610084835.9
📄 发布日:2026/07/23
著录项目信息
申请日
2016-02-14
公开号
CN105738732A
公开日
2016-07-06
申请人
无锡职业技术学院
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
G01R31_00
IPC 分类号
G01R31_00
技术画像
所属领域
性能测试
RFID标签测试
射频识别技术
无线通信测试
性能测试
应用场景
RFID标签生产检测, 物联网设备测试, 仓储物流管理, 供应链管理, 智能零售
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摘要
本发明标签性能测试系统涉及的是一种标签测试系统,特别适合于广大中小RFID系统开发应用企业、科研院所等需要对RFID标签性能进行测试的场合。包括测试仪、读写器、天线、天线固定支架和程控转台,天线固定支架设置在程控转台一侧,天线固定支架上设有滑轨,天线安装在天线固定支架上,所述天线能够沿滑轨上下移动,读写器安装在固定支架底部;天线通过馈线与读写器连接,测试仪通过网线与读写器相连,测试仪通过RS232串行通信接口与程控转台相连;所述测试仪采用工控机,在测试仪上装有RFID标签专用测试模块,测试仪通过该专用测试模块控制程控转台,并读取天线采集到的RFID信号,完成标签性能参数的测试。
权利要求书 (12项)
说明书
附图
……
……
图1
图2
图3
法律状态时间线
20180619
✅ 授权
20160803
?? 实质审查的生效 :
20160706
📄 公开
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