发明专利已授权

基于x-f-k变换快速实现频域解相的三维物体面形测量方法

📄 申请号：CN201910350890.1 📄 发布日：2026/07/23

著录项目信息

申请日

2019-04-28

公开号

CN110057321A

公开日

2019-07-26

申请人

西安理工大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01B11_25

IPC 分类号

G01B11_25 , G06T17_00 , G06F17_16 , G06T3_00 ,

技术画像

所属领域

三维形貌测量三维形貌测量相位解包裹频域变换

应用场景

工业精密测量, 产品质量检测, 逆向工程, 机器视觉, 智能制造

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摘要

本发明基于x-f-k变换快速实现频域解相的三维物体面形测量方法，通过向待测物体投射正弦结构光栅，采集受到待测物体高度分布调制的变形光栅；通过x-f-k变换处理变形条纹，得到三维的x-f-k变换系数；从x-f-k变换系数中求取相位，得到包裹在[-π，+π]之间的截断相位；对截断相位进行相位展开，得到连续分布的自然相位，根据相位-高度对应关系，得到待测物体的三维面形分布。本发明解决了现有技术中存在的三维面形测量精度低的问题。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

20210115

✅ 授权

20190820

?? 实质审查的生效：

20190726

📄 公开

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