发明专利已授权

基于二次编解码结构的金属物体表面高光去除方法

📄 申请号：CN202211064191.9 📄 发布日：2026/07/23

著录项目信息

申请日

2022-09-01

公开号

CN115131252A

公开日

2022-09-30

申请人

杭州电子科技大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G06T5_00

IPC 分类号

G06T5_00 , G06V10_764 , G06V10_774 , G06V10_82 , G06N3_04 , G06N3_08 ,

技术画像

所属领域

图像处理图像处理深度学习机器视觉

应用场景

金属表面缺陷检测, 工业视觉检测, 表面质量检测, 三维重建, 智能制造业

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摘要

本发明公开了一种基于二次编解码结构的金属物体表面高光去除方法，包括如下步骤：S1、采集原图像建立训练集，并根据数据集中含有高光的原图像，获得高光区域与非高光区域的像素分类训练集；S2、构建高光检测网络，将高光图像输入到高光检测网络，结合兴趣区域掩码输出高光检测的分类结果；S3、根据分类结果，计算损失并更新高光检测网络；S4、构建高光去除网络，输出高光去除结果；S5、根据无高光真值和S4的输出，计算损失并更新高光去除网络。该方法在保证物体颜色一致性与不失真的前提下，去除金属物体表面的高光构成一个适用性广的高光去除网络架构。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

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当前第 / 件

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