发明专利已授权

一种芯片内逻辑模型的测试方法及装置

📄 申请号：CN201810072807.4 📄 发布日：2026/06/10

著录项目信息

申请日

2018-01-25

公开号

CN110082672A

公开日

2019-08-02

申请人

大唐移动通信设备有限公司

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01R31_317

IPC 分类号

G01R31_317

技术画像

所属领域

测试方法芯片测试集成电路验证逻辑模型验证测试方法

应用场景

芯片设计验证, 集成电路测试, 半导体制造, 电子设计自动化

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摘要

本发明涉及芯片技术，特别涉及一种芯片内逻辑模型的测试方法及装置。用以在不占用大量逻辑资源的前提下，提高逻辑模型的测试效率和故障覆盖率。该方法为：按照预设的棋盘格式生成测试向量集合，并通过在待测试的逻辑模型中的RAM内写入和读取所述测试向量集合中的测试向量，来完成对RAM的故障测试；其中，在RAM内，每一个存储位均采用了取值相反的两种逻辑值进行了读和写的覆盖，这样，无需对FPGA芯片进行重配置即可以实现RAM检测，并且采用的检测电路结构简单易实现，且占用较少的逻辑资源，从而可以在不占用大量逻辑资源的前提下，准确、全面地检测逻辑模型中的RAM的各类故障，进而提高测试效率和故障覆盖率。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

一种开关状态的确定方法及装置

当前第 / 件

一种基站的数字逻辑电路检测方法和装置

同领域国内专利 · IPC: (G01R31_317)

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