发明专利已授权

一种AlGaNGaN HEMT器件性能测试装置及其使用方法

📄 申请号：CN202411531948.X 📄 发布日：2026/04/15

著录项目信息

申请日

2024-10-30

公开号

CN119291438B

公开日

2025-04-18

申请人

苏州科技大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01R31_26

IPC 分类号

G01R31_26 , G01R1_04 ,

技术画像

所属领域

测试装置半导体器件测试氮化镓HEMT器件功率半导体测试性能测试测试装置

应用场景

半导体器件测试, 射频器件性能评估, 功率电子系统, 通信设备研发, 器件可靠性验证

AI 智能推荐 · 同申请人专利 · 搜索相似专利

摘要

本发明涉及半导体测试技术领域，具体涉及一种AlGaNGaN HEMT器件性能测试装置及其使用方法，包括机台，机台的上表面固定连接有支架，支架的正面上部设置有测试机构，机台的上表面中部设置有检测台，支架的上表面边缘处设置有防护组件，机台的侧边设置有电推杆，电推杆的驱动端固定连接有夹具，夹具的侧边设置有稳固组件，夹具的内部设置有调节组件。相较于现有技术，本申请通过设置防护组件于机台的两侧，利用双头电机作为驱动源，在传动杆、齿轮一和齿条一的传动下推动第一挡板和第二挡板向前移动，第二挡板在移动到指定位置后受到齿轮二和齿条二的限位会绕着滑杆转动，第二挡板与第一挡板组成的围挡将待检测产品的外围进行封闭，达到防护的效果。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

一种建筑水平测量装置及其使用方法

当前第 / 件

一种基坑监测用沉降位移观测辅助装置

同领域国内专利 · IPC: (G01R31_26)

G01R31_00 G01R31_01 G01R31_02 G01R31_08 G01R31_11 G01R31_12 G01R31_14 G01R31_16 G01R31_18 G01R31_24 G01R31_26 G01R31_265 G01R31_28 G01R31_317 G01R31_3177 G01R31_3185 G01R31_327 G01R31_34 G01R31_36 G01R31_364 G01R31_367 G01R31_378 G01R31_379 G01R31_382 G01R31_3835 G01R31_3842 G01R31_385 G01R31_387 G01R31_388 G01R31_389 G01R31_392 G01R31_396 G01R31_40 G01R31_42 G01R31_44 G01R31_50 G01R31_52 G01R31_54 G01R31_55 G01R31_56 G01R31_58 G01R31_62 G01R31_64 G01R31_66 G01R31_67 G01R31_68 G01R31_69 G01R31_72 覆盖48个领域

相似专利推荐 AI 驱动 · 同领域

暂无同领域相似专利推荐

议价

不含过户费

📋 交易方式： 委托待转让 📌 交易状态：在售 👁️ 浏览次数：103 ❤️ 收藏人数：93 📋 项目申报： 未申报

资金托管权属尽调包过户

🏢 淄博智来知识产权服务有限公司

✓ 企业认证✓ 手机绑定历史成交 0件好评率 98.5%

📊 出价记录 (3条)

王**¥-10万

李** 企业¥-8万

陈**¥-3万

查看全部出价

我要出价 (议价)