发明专利已授权

一种多标准二极管反向恢复时间测试装置

📄 申请号：CN201610149554.7 📄 发布日：2026/02/03

著录项目信息

申请日

2016-03-16

公开号

CN105823973A

公开日

2016-08-03

申请人

温州大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01R31_26

IPC 分类号

G01R31_26

技术画像

所属领域

测试装置半导体器件测试电子测量设备功率电子器件测试装置

应用场景

半导体器件测试, 电力电子设备研发, 电源设计验证, 器件可靠性评估, 电子元器件质检

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摘要

本发明提供一种多标准二极管反向恢复时间测试装置，包括检测电路、信号处理电路和数模转换及显示电路；检测电路包括由单片机IC4产生的脉冲经电子开关IC3A、IC3B、IC3F和三极管TR2驱动场效应管TR1产生反向脉冲电压VR形成的反向脉冲电压源电路，由三极管TR11及电阻R21、R22、R23、24、R25及三极管TR3和TR4共同提供正向脉冲电流IF形成的正向脉冲电流源电路，以及由选通开关K1选择负载电阻R3、R5、R7、R9之中任一而形成反向恢复电压波形的测试电路。实施本发明，可满足不同标准的二极管反向恢复时间测试。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

一种建筑工程补洞器

当前第 / 件

头戴3D显示设备的视觉优化系统、智能终端及头戴设备

同领域国内专利 · IPC: (G01R31_26)

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