实用新型已授权

一种电子盘的老化测试设备

📄 申请号：CN202120268299.4 📄 发布日：2025/12/09

著录项目信息

申请日

2021-01-29

公开号

CN214895550U

公开日

2021-11-26

申请人

苏州捷存电子科技有限公司

法律状态

已下证

专利类型

实用新型

主分类号

G01R31_00

IPC 分类号

G01R31_00 , G01R1_04 ,

技术画像

所属领域

电子盘老化测试电子盘老化测试存储设备可靠性测试老化测试设备

应用场景

固态硬盘生产, 存储设备质量控制, 电子产品可靠性验证

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摘要

本实用新型公开了一种电子盘的老化测试设备，具体涉及老化测试设备技术领域，包括测试箱，所述测试箱内部设置有测试机构，所述测试机构包括安装板，所述测试箱底部设置有驱动电机，所述驱动电机输出端设置有连接轴，所述连接轴一端贯穿测试箱内壁并与安装板底部固定连接，所述安装板顶部设置有两个支撑架，两个所述支撑架底部均与安装板顶部固定连接，两个所述支撑架之间设置有多个放置板，多个所述放置板顶部均开设有多个放置槽，多个所述放置槽底部开设有通风孔。本实用新型通过设置测试机构，从而避免测试箱内部存在温差现象，保证了后续测试数据的精度，而且可以使电子盘可以均匀受热，提高了后续测试精度。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

20211126

✅ 授权

一种SATA多功能转接卡

当前第 / 件

一种多功能布线架

同领域国内专利 · IPC: (G01R31_00)

G01R31_00 G01R31_01 G01R31_02 G01R31_08 G01R31_11 G01R31_12 G01R31_14 G01R31_16 G01R31_18 G01R31_24 G01R31_26 G01R31_265 G01R31_28 G01R31_317 G01R31_3177 G01R31_3185 G01R31_327 G01R31_34 G01R31_36 G01R31_364 G01R31_367 G01R31_378 G01R31_379 G01R31_382 G01R31_3835 G01R31_3842 G01R31_385 G01R31_387 G01R31_388 G01R31_389 G01R31_392 G01R31_396 G01R31_40 G01R31_42 G01R31_44 G01R31_50 G01R31_52 G01R31_54 G01R31_55 G01R31_56 G01R31_58 G01R31_62 G01R31_64 G01R31_66 G01R31_67 G01R31_68 G01R31_69 G01R31_72 覆盖48个领域

¥1800.0 元

不含过户费

📋 交易方式： 委托待转让 📌 交易状态：在售 👁️ 浏览次数：40 ❤️ 收藏人数：93 📋 项目申报： 已报项目

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🏢 淄博智来知识产权服务有限公司

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