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本发明公开了一种利用新型光学薄膜实现多通道信息编码的方法，包括如下步骤：1)构建纳米结构单元；2)根据入射光波长λ优化所述纳米结构单元的结构参数；3)构建纳米结构阵列，所述纳米结构阵列包含多个纳米结构单元；设定以偏振方向α1＝π/2的线偏振光入射至所述纳米结构阵列再经过以透光轴方向α2＝0的检偏器，能够在纳米结构阵列编码第一幅图像；偏振方向保持不变的线偏振光入射至所述纳米结构阵列再经过以透光轴方向至α2＝π/4的检偏器，能够在纳米结构阵列表面编码第二幅图像；偏正方向α1＝‑π/8的线偏振光入射至所述纳米结构阵列再经过以透光轴方向α2＝π/8的检偏器，能够在纳米结构阵列表面编码第三幅图像，可以应用于偏振显示、加密、高端防伪等领域。

本发明公开了一种光学薄膜激光毁伤的识别方法及装置，通过采集质荷比分布，用计算机软件进行质谱分析与元素判别，就能确定所毁伤材料中包含的元素种类，从而准确、在线、快速判别出薄膜是否发生损伤。采用该方法的装置由测试样品台、质荷比采集系统及计算机运算系统组成。本发明能够实现在线、实时、快速、准确判别薄膜或光学元件在强激光下的毁伤状态。将该方法应用于激光损伤阈值测试中，可实现测试系统的集成化、自动化、智能化。

本发明公开一种具有自聚焦功能的结构化多层光学薄膜及其制备方法。所述多层光学薄膜包括玻璃基底，玻璃基底顶面由下至上层叠设有SiNx薄膜、SiOxNy薄膜和/或SiOxFy薄膜；所述光学薄膜整体为金字塔结构。制备时，使用单点金刚石切削金属模具，通过纳米压印技术结合等离子体刻蚀的方法将金字塔结构阵列转移到多层光学薄膜中。本发明的产品具有优良的聚焦性能，焦距可以通过微结构内部的膜层设计进行调节，在可见光以及近红外波段具有消色差的特性。其制备工艺成本低，效率高，可以实现大尺寸范围的批量化生产。

本发明涉及一种基于偏振参数识别光学薄膜激光损伤的方法和装置，其克服了现有技术中判别薄膜是否发生损伤，常常会造成“误判”现象，适用于激光损伤阈值测量中各类光学元件及镀膜元件表面损伤的在线判别，具有快速、准确的特点。本发明采用的技术方案如下：包括用于安装薄膜测试样品的二维工作台，二维工作台两侧分别设置有入射光路和反射光路，入射光路一侧依次设置有光源、滤光片、平行光管和起偏器，反射光路一侧依次设置有波片、检偏器和光电接收器，高能激光器的激光发射端正对薄膜测试样品表面，在高能激光器的激光脉冲输出方向依次设置有衰减器和会聚透镜，其中二维工作台、波片、检偏器、高能激光器、接收器和衰减器均连接至工业控制计算机。

本实用新型公开了一种抗划痕光学薄膜贴合夹具，涉及夹具技术领域，包括底座组件，底座组件设置有两组，两组底座组件顶部均设置有定位组件，底座组件包括支撑座，支撑座底部设置有缓冲块，缓冲块设置有四组；定位组件还包括固定连接于支撑座顶部的放置腔台，放置腔台顶面设置有夹具机构，夹具机构设置有两组；夹具机构包括设置于放置腔台顶面的限位槽，放置腔台内部固定连接有驱动电机，放置腔台内部转动连接有正反牙丝杆，正反牙丝杆一端与驱动电机输出端固定连接，这种设置利用夹具可同时夹持固定多组镜片，操作简单快捷，镜片稳定后可保证镀膜的质量，提升装置的工作效率。

本发明公开了一种石墨烯/氧化物复合光学薄膜的制备方法。是一种在石英片上利用双层辉光等离子物理溅射沉积技术通过两步法实现石墨烯/氧化物复合光学薄膜的制备。具体是将石英片丙酮清洗，高压氮气烘干处理；高纯低熔点和高熔点金属靶作为氧化物的金属元素溅射源，用丙酮进行清洗，同时通入一定比例的氩气和氧气作为金属氧化物的合成气氛条件；将预处理好的基片和靶材样品放入双层辉光等离子溅射腔室内，采用两步法工艺实现氧化物薄膜的制备。

本发明公开了一种光学薄膜运输储存设备及其使用方法，属于光学薄膜运输储存领域，其包括第一运输构件，其与待连接地面相贴触；第二运输构件，其可拆卸的布设于所述第一运输构件上，其可被所述第一运输构件沿着左右的方向进行调节运动；承载构件，其可拆卸的布设于所述第二运输构件上，其可被所述第二运输构件沿着前后上下的方向进行调节运动。本发明的光学薄膜运输储存设备及其使用方法，通过布设的贴合构件，将第二贴合板与第一贴合板进行脱模，将多组光学薄膜置放于第一贴合板所具有的存储腔体内，在第二贴合板与第一贴合板合模，且使得磁力吸片吸附至第二贴合板所具有的铁环，以完成对多组光学薄膜的存储。

本实用新型公开了一种固定角度光学薄膜反射率测试装置，包括放置在实验室试验台上的底座，所述底座的顶端固定连接有底板，所述底板的侧壁上设有开口向上的T字形限位槽，所述限位槽中滑动设置有物料夹持组件，所述底板的一侧壁上固定连接有侧板，所述侧板靠近底板的一侧壁上分别通过转轴转动连接有反射接收光筒和入射光源套筒，所述入射光源套筒的内圈中安装有可调节光源发射结构，所述侧板远离入射光源套筒的一端固定连接有数据分析装置。本实用新型能够对同一种光学薄膜，快速进行不同光源、不同光照面积的侧视，由此有效提升光学薄膜反射率测试的准确性，促使检测的数值更加全面、客观，进一步提升光学薄膜生产的质量。