发明专利 已授权

一种光学薄膜激光毁伤的识别装置及识别方法

📄 申请号:CN201410200783.8 📄 发布日:2026/07/23

著录项目信息

申请日
2014-05-13
公开号
CN103954680B
公开日
2016-08-24
申请人
西安工业大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

光学元件检测, 高功率激光系统, 精密光学制造, 激光器质量检测, 科研实验

摘要

本发明公开了一种光学薄膜激光毁伤的识别方法及装置,通过采集质荷比分布,用计算机软件进行质谱分析与元素判别,就能确定所毁伤材料中包含的元素种类,从而准确、在线、快速判别出薄膜是否发生损伤。采用该方法的装置由测试样品台、质荷比采集系统及计算机运算系统组成。本发明能够实现在线、实时、快速、准确判别薄膜或光学元件在强激光下的毁伤状态。将该方法应用于激光损伤阈值测试中,可实现测试系统的集成化、自动化、智能化。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

20160824
✅ 授权
20140827
?? 实质审查的生效 :
20140730
📄 公开
议价
不含过户费

📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:33 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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