发明专利 已授权

一种具有高热稳定性、低功耗性能的多层相变薄膜材料

📄 申请号:CN201810902452.7 📄 发布日:2026/07/23

著录项目信息

申请日
2018-08-09
申请人
江苏理工学院
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

相变存储器, 高密度数据存储, 非易失性存储, 固态存储器件, 芯片制造

摘要

本发明涉及一种微电子领域的材料,具体涉及一种用于高速相变存储器的ZnSb/GaSb类超晶格相变薄膜材料。ZnSb薄膜和GaSb薄膜交替排列,其中,单层ZnSb薄膜的厚度为1~10nm,单层GaSb薄膜的厚度为1~10nm,所述ZnSb/GaSb类超晶格相变薄膜总厚度为2~100nm。利用类超晶格结构的特殊性,可以减少加热过程中的热量散失,降低薄膜的整体热导率,从而提高相变速度。其次,利用类超晶格结构中多层界面的夹持效应,可以减小晶粒尺寸,从而缩短结晶时间,抑制晶化,在提高热稳定性的同时加快相变速度。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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H01L45_00 覆盖1个领域

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