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| 专利/申请号： | CN201711336503.6 | 专利名称： | 基于纳米线表面等离激元的折射率测量方法及传感器系统 |
| 申请日： | 2017-12-14 | 申请/专利权人 | 中国地质大学(武汉) |
| 专利类型： | 发明 | 地址： | 湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号 |
| 专利状态： | 已下证 查询审查信息 | 分类号： | G01N21/41分类检索 传感器 测量测绘 纳米材料 表 纳米线 折射率测量专利转让搜索 |
| 公开/公告日： | 2020-06-26 | 转让价格： | 【平台担保交易】 |
| 公开/公告号： | CN107358654B | 交易状态： | 等待洽谈 搜索相似专利 |
摘 要：本发明公开了一种基于纳米线表面等离激元的折射率测量方法及传感器系统，其方法包括：产生光波；置于待测溶液中的纳米线接收光波，并激发表面等离激元，同时产生散射光；接收散射光，得到散射光的不同散射率峰值对应的波长，并根据峰值的位置来确定待测溶液的折射率。本发明的有益效果：本发明基于纳米线表面等离激元的折射率测量方法及传感器系统利用表面等离激元现象，并通过计算得到散射光的不同散射率峰值对应的波长，并根据峰值的位置来确定待测溶液的折射率。突破了衍射极限，让传感器件的微型化成为可能，使传感器的体积达到纳米级别，结构简单，成本低，便于集成与生物探测，同时具有较高的空间分辨率，具有广阔的市场前景。
| 交易方 | 企业 | 个人 |
| 买家 | 营业执照副本复印件（需盖公章） | 身份证复印件（签字） |
| 专利转让委托书（需盖公章）一式两份 | 专利转让委托书（需签字）一式两份 | |
| 专利转让协议（需盖公章）一式两份 | 专利转让协议（需签字）一式两份 | |
| 卖家 | 营业执照副本复印件（需盖公章） | 身份证复印件（需申请人签字） |
| 解除代理委托书（需盖公章）一式两份（如专利通过代理机构申请） | 解除代理委托书（需签字）一式两份（如专利通过代理机构申请） | |
| 专利转让协议（需盖公章）一式两份 | 专利转让协议（需签字）一式两份 | |
| 专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
| 专利证原件（若授权下证） | 专利证原件（若授权下证） |
| 日期 | 法律信息 | 备注 |
| 申请号 | 专利名称 | 发布日期 |
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