折射率测量类专利转让_商标转让

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专利名称：基于纳米线表面等离激元的折射率测量方法及传感器系统申请号：2017113365036 转让价格：面议收藏
法律状态：已下证类型：发明关键词：传感器测量测绘纳米材料表纳米线折射率测量相似专利发布日：2023/03/30
摘要：本发明公开了一种基于纳米线表面等离激元的折射率测量方法及传感器系统，其方法包括：产生光波；置于待测溶液中的纳米线接收光波，并激发表面等离激元，同时产生散射光；接收散射光，得到散射光的不同散射率峰值对应的波长，并根据峰值的位置来确定待测溶液的折射率。本发明的有益效果：本发明基于纳米线表面等离激元的折射率测量方法及传感器系统利用表面等离激元现象，并通过计算得到散射光的不同散射率峰值对应的波长，并根据峰值的位置来确定待测溶液的折射率。突破了衍射极限，让传感器件的微型化成为可能，使传感器的体积达到纳米级别，结构简单，成本低，便于集成与生物探测，同时具有较高的空间分辨率，具有广阔的市场前景。

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