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摘 要:本发明公开了一种SiCMOSFET仿真电路模型参数精度校正方法,建立SiCMOSFET仿真电路模型,对SiCMOSFET仿真电路模型进行双脉冲电路仿真测试,得到仿真双脉冲测试电压电流波形图;根据SiCMOSFET仿真电路模型建立SiCMOSFET实际电路,对SiCMOSFET实际电路进行双脉冲电路测试,得到实际双脉冲测试电压电流波形图;调整门极‑漏极电容Cgd、门极‑源极电容Cgs、阈值Vth、跨导gf和源极寄生电感Ls和漏极寄生电感Ld,SiCMOSFET仿真电路模型参数精度校正完成。本发明有效提高SiCMOSFET仿真电路模型的精确性。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201811288285.8 | 专利名称: | 一种SiCMOSFET仿真电路模型参数精度校正方法 |
申请日: | 2018-10-31 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G06F30/33搜分类 电子 C IC F 电路 电路模型搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |