发明专利已授权

一种基于全聚焦成像算法改进边缘缺陷检测的方法

Name: 一种基于全聚焦成像算法改进边缘缺陷检测的方法
Brand: 中国计量大学
SKU: 2016110463085
Availability: InStock

📄 申请号：CN201611046308.5 📄 发布日：2026/11/10

著录项目信息

申请日

2016-11-22

公开号

CN106770664B

公开日

2019-05-07

申请人

中国计量大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01N29_06

IPC 分类号

G01N29_06 , G06T7_00 ,

技术画像

所属领域

全聚焦成像算法全聚焦成像算法超声无损检测缺陷检测

应用场景

工业无损检测, 材料缺陷检测, 焊缝质量检测, 智能制造质检, 边缘缺陷识别

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摘要

本发明公开了一种基于全聚焦成像算法改进边缘缺陷检测的方法，现在的全聚焦成像算法仅仅考虑当阵列换能器的波之间发射到缺陷位置上，忽略了当阵列换能器的波传播到试块底部，反射到缺陷上产生的回波信号，本发明在考虑到多模型的全聚焦算法的基础上，提出了改进型的全聚焦成像算法，在考虑到波衰减的情况下，加进了底面反射回波对缺陷成像的影响，本发明方法能更加精确的仿真真实超声相控阵检测，提高边缘缺陷检测的精确度。

常见问题

这项专利是否已经下证？

是的，该专利已下证，法律状态为“已下证”，公开号： CN106770664B

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该专利的转让价格是多少？

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权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

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