发明专利已授权

基于剥层法测量梯度纳米材料圆棒试样深度方向应力应变关系的方法

📄 申请号：CN202310824272.2 📄 发布日：2026/08/04

著录项目信息

申请日

2023-07-06

公开号

CN116858636B

公开日

2026-04-03

申请人

浙江工业大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01N1_28

IPC 分类号

G01N1_28 , G01N3_08 , G16C60_00 ,

技术画像

所属领域

纳米材料纳米材料力学性能测试材料表征

应用场景

材料力学性能测试, 新材料研发, 残余应力评估, 纳米材料表征, 工程材料质量检测

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摘要

本发明公开了一种基于剥层法测量梯度纳米材料圆棒试样深度方向应力应变关系的方法，包括：把梯度纳米结构圆棒试样抽象为同心圆柱形层合板，梯度部分划分为N层号；按照编号顺序分别对梯度纳米结构圆棒试样进行不同程度的电解剥层；对剥层后试样进行拉伸试验，获取剥不同层数试样的应变‑拉伸力数据；将剥不同层数试样的应变‑拉伸力数据进行平滑及插值处理，获取相同应变时剥不同层数试样对应的拉伸力；求解出粗晶层及N层梯度层的应力应变关系；根据粗晶层及N层梯度层的应力应变关系调整梯度纳米结构圆棒的制备参数。本方法直接测量试样的宏观应力应变响应，基于径向尺寸相邻试样的测试结果，计算对应薄层材料的准静态应力应变曲线。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

一种用于检测温度的近红外荧光探针及其制备方法与应用

当前第 / 件

一种基于渐进无迹卡尔曼滤波的人体目标跟踪方法

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