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发明专利
已授权
板卡烧录装置性能分析方法、装置、设备及可读存储介质
📄 申请号:CN202111595197.4
📄 发布日:2026/05/13
著录项目信息
申请日
2021-12-24
公开号
CN114238062B
公开日
2024-03-05
申请人
位银星
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
G06F11_34
IPC 分类号
G06F11_34
,
G06F18_23213
,
G06F8_61
,
技术画像
所属领域
性能分析
烧录装置
性能测试
电子制造设备
性能分析
应用场景
电子产品制造, 固件烧录, 芯片烧录, 生产线测试, 质量检测
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摘要
本发明提供了一种板卡烧录装置性能分析方法、装置、设备及可读存储介质,涉及计算机技术领域,包括获取第一信息,所述第一信息为至少一种板卡烧录装置的板卡烧录信息;将所述第一信息进行预处理,得到第二信息,所述第二信息为将第一信息进行预处理后得到板卡烧录的性能数值集合;对所述第二信息进行关键因子筛选和初始聚类,得到第二信息的初始聚类簇;根据所述初始聚类簇的数量进行二次聚类,并计算出所述板卡烧录装置的性能评分。本发明通过上述步骤既获取了多种板卡的性能评分,又使得到性能评分更加准确,同时减少人力物力的投入,并更加客观和具备可信度。
权利要求书 (12项)
说明书
附图
……
……
图1
图2
图3
法律状态时间线
一种大功率半导体照明器件控制系统
当前第 / 件
板卡缺陷类别识别方法、装置、设备及可读存储介质
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