发明专利 已授权

一种基于偏振原理的高反物体表面高光去除方法

📄 申请号:CN202010329143.2 📄 发布日:2026/09/04

著录项目信息

申请日
2020-04-23
公开号
CN113554575B
公开日
2022-10-11
申请人
华东交通大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

所属领域

应用场景

工业视觉检测, 表面缺陷检测, 三维重建, 智能制造, 机器人视觉

摘要

本发明提供了一种基于偏振原理的高反物体表面高光去除方法。在结构光三维测量方法中,受不均匀照明影响,高反物体表面成像时会产生图像高光,遮盖物体表面的条纹图案。因此,实现高反物体表面的高光去除是视觉测量方法中的一个重要项目。为了解决上述问题,本发明提出了一种偏振方法,根据最优偏振角原理,获取高反物体在多偏振角下的成像图片并将其合成,达到提高图像信噪比和削弱高光的目的。同时,提出一种归一化加权算法,采集多曝光时间下的高光图像并合成,恢复高光区域内的表面信息。实验结果显示,该方法所得到的图像的信噪比得到提升,图像高光明显削弱,高光区域内的条纹图案得到有效恢复。

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:27 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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