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一种在倒易空间中基于体积比标定EBSD菊池带的新方法

Name: 一种在倒易空间中基于体积比标定EBSD菊池带的新方法
Brand: 华东交通大学
SKU: 2022103557191
Availability: InStock

📄 申请号：CN202210355719.1 📄 发布日：2026/09/04

著录项目信息

申请日

2022-04-06

公开号

CN114742965B

公开日

2022-12-06

申请人

华东交通大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G06T17_10

IPC 分类号

G06T17_10 , G01N23_203 ,

技术画像

所属领域

其他分类其他

应用场景

材料微观结构分析, 晶体取向测定, 金属材料表征, 半导体材料分析, 失效分析

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摘要

本发明属于晶体材料表征技术领域，具体公开了一种在倒易空间中基于体积比标定EBSD菊池带的新方法，包括：确定菊池带对应的倒易矢量及其三维分量；计算以三个不共面的倒易矢量为棱的平行六面体的体积；所围平行六面体体积处于最小体积至最小体积1.2倍范围内的不共面倒易矢量均可选为初基胞的基矢，其体积为初基胞体积V0；计算以待标定的倒易矢量及三个基矢中的任意两个为棱的平行六面体体积Vh、Vk、Vl；根据h＝Vh/V0，k＝Vk/V0，l＝Vl/V0得出指数计算值，取计算值的相邻整数，以h/k，k/l，l/h误差绝对值最小的为最终的指数值。该方案结合晶体的固有特性，只需一个EBSD花样可进行正确的标定，尤其对自动识别的倒易矢量端部偏离拟合晶格格点的情况更具有可靠性。

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……

图1

图2

图3

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当前第 / 件

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