发明专利 已授权

偏振条纹投影的三维位移测量方法及其系统

📄 申请号:CN202410681046.8 📄 发布日:2026/09/04

著录项目信息

申请日
2024-05-29
公开号
CN118258309B
公开日
2024-08-23
申请人
华东交通大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

所属领域

应用场景

工业检测, 精密制造, 变形测量, 结构健康监测, 科研实验

摘要

本公开涉及三维位移测量领域,具体涉及偏振条纹投影的三维位移测量方法及其系统;所述方法包括如下步骤:将0°偏振态的绿黑正弦条纹图案和90°偏振态的全紫背景正弦条纹图案叠加生成新的正弦条纹图案;采用四步相移法处理新的正弦条纹图案得到可纹理分离的偏振相移条纹;将所述偏振相移条纹通过投影仪投射到物体表面,并通过偏振相机获得不同时刻的0°偏振态下的照片和90°偏振态下的照片;用数字图像相关法对不同时刻的纹理图案进行全场二维点追踪得到二维坐标的对应关系,再将二维坐标的对应关系转换为三维坐标得到的三维坐标的对应关系,进而得到物体的三维位移。本公开在不增加额外硬件设备的情况下得到高质量的条纹图案与纹理图案。

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这项专利是否已经下证?

是的,该专利已下证,法律状态为“已下证”,公开号: CN118258309B

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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