发明专利 已授权

基于光栅尺的测量装置

📄 申请号:CN202010372498.X 📄 发布日:2025/10/11

著录项目信息

申请日
2020-05-06
公开号
CN111351440B
公开日
2025-09-26
申请人
深圳市尼柯光学精密技术有限公司
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

工业自动化, 数控机床, 精密仪器, 质量检测, 机器人定位

摘要

本发明涉及测量仪器技术领域,特别涉及一种基于光栅尺的测量装置,包括底座、光栅尺以及测量头,所述光栅尺包括尺壳和读数头,光栅尺的尺壳固定安装在底座上,测量头固定在光栅尺的读数头上用于接触待测物体的表面。光栅尺具有量程大、精度高的特点,我们通过将光栅尺的尺壳固定在底座上,待测产品放置在底座上,再通过光栅尺的读数头上固定的测量头就可以方便的对待测产品进行测量,该装置可以同时实现外径和内径的测量,也可以进行高度的测量,使用起来非常方便。

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是的,该专利已下证,法律状态为“已下证”,公开号: CN111351440B

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:182 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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