发明专利 已授权

一种强噪声条件下光场EPI图像超分辨率的处理方法

📄 申请号:CN202010626079.4 📄 发布日:2025/12/11

著录项目信息

申请日
2020-07-02
公开号
CN111951159B
公开日
2024-04-26
申请人
西安理工大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

计算摄影, 机器视觉, 工业检测, 自动驾驶, 智能安防

摘要

本发明公开了一种强噪声条件下光场EPI图像超分辨率的处理方法,具体按照以下实施:读入光场原始文件,进行解析,得到光场原始图像、光场白图像和微透镜中心坐标文件;利用得到的光场原始图像、光场白图像和微透镜中心坐标文件进行解码,得到光场图像的二维位置信息;通过得到的光场图像信息提取不同角度信息的子孔径图;对得到的子孔径图提取像素点,得到光场EPI图像;对得到的光场EPI图像进行BM3D去噪处理;对去噪处理后的光场图像进行超分辨重建,完成强噪声条件下光场EPI图像超分辨率的处理,能在不改变光场相机硬件设计的条件下,利用光场多视图间的关系,对光场EPI图像实现超分辨率重建。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

议价
不含过户费

📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:82 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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