发明专利已授权

一种利用等厚干涉原理检测显示屏中缺陷的系统及方法

📄 申请号：CN201911041444.9 📄 发布日：2026/07/23

著录项目信息

申请日

2019-10-30

公开号

CN110618138A

公开日

2019-12-27

申请人

安徽工业大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01N21_95

IPC 分类号

G01N21_95 , G01N21_45 , G01N21_01 ,

技术画像

所属领域

显示屏光学检测缺陷检测干涉测量显示屏

应用场景

显示屏制造, 显示面板质量检测, 液晶面板检测, OLED屏检测, 玻璃基板检测

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摘要

本发明公开了一种利用等厚干涉原理检测显示屏中缺陷的系统及方法，属于光干涉检测技术领域。本发明中待测玻片与平整玻片之间形成空气劈尖，平行光透过空气劈尖产生干涉条纹，当待测玻片中有缺陷或杂质时，干涉条纹发生畸变，在x与y方向分别计算条纹级数及条纹宽度得到缺陷的具体位置坐标，再对其进行后续加工剪裁，可以实现较高的检测精度，操作简单方便，有效防止缺陷或杂质的漏检，得到完整无缺陷的玻璃显示屏。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

20220607

✅ 授权

20200121

?? 实质审查的生效：

20191227

📄 公开

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