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专利名称：一种利用等厚干涉原理检测显示屏中缺陷的系统及方法申请号：2019110414449 转让价格：面议收藏
法律状态：已下证类型：发明关键词：光干涉检测技术相似专利发布日：2025/07/09
摘要：本发明公开了一种利用等厚干涉原理检测显示屏中缺陷的系统及方法，属于光干涉检测技术领域。本发明中待测玻片与平整玻片之间形成空气劈尖，平行光透过空气劈尖产生干涉条纹，当待测玻片中有缺陷或杂质时，干涉条纹发生畸变，在x与y方向分别计算条纹级数及条纹宽度得到缺陷的具体位置坐标，再对其进行后续加工剪裁，可以实现较高的检测精度，操作简单方便，有效防止缺陷或杂质的漏检，得到完整无缺陷的玻璃显示屏。

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