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具有采样的带隙参考的CMOS图像感测

Name: 具有采样的带隙参考的CMOS图像感测
Brand: 深圳市汇顶科技股份有限公司
SKU: 2022104927177
Availability: InStock

📄 申请号：CN202210492717.7 📄 发布日：2025/11/12

著录项目信息

申请日

2022-05-07

申请人

深圳市汇顶科技股份有限公司

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

H04N25_76

IPC 分类号

技术画像

所属领域

CMOS图像传感器 CMOS图像传感器带隙基准电路采样保持电路

应用场景

数码相机, 智能手机, 安防监控, 车载摄像头, 医疗成像

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摘要

描述了用于CMOS图像传感器(CIS)应用的采样的带隙参考生成的技术。例如，CIS包括像素阵列、一个或多个像素模数转换器(ADC)和采样的带隙参考发生器，所有这些都紧密地集成在一个芯片上。ADC依靠来自带隙参考发生器的稳定参考电平用于执行像素阵列的像素转换。采样的带隙参考生成器的实施例可以根据参考生成周期操作。每个周期可以包括第一部分和第二部分，在第一部分中，有源核心动态地稳定带隙参考电平，在第二部分中，核心被去激活，并且带隙参考电平基于该周期的先前的第一部分期间获得的采样的电平被输出。可以控制周期时序，以实现参考电平的充分动态稳定，同时减少来自核心的光子发射。

常见问题

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权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

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当前第 / 件

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