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基于人类视觉特性的微型磁瓦表面缺陷检测方法

Name: 基于人类视觉特性的微型磁瓦表面缺陷检测方法
Brand: 浙江理工大学
SKU: 2020100222943
Price: 15000.0 CNY
Availability: InStock

📄 申请号：CN202010022294.3 📄 发布日：2026/07/23

著录项目信息

申请日

2020-01-09

公开号

CN111210419B

公开日

2023-10-20

申请人

浙江理工大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G06T7_00

IPC 分类号

G06T7_00 , G06T7_136 ,

技术画像

所属领域

检测方法表面缺陷检测机器视觉图像处理检测方法

应用场景

工业自动化, 智能制造, 质量检测, 磁瓦生产

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摘要

本发明提供一种基于人类视觉特性的微型磁瓦表面缺陷检测方法：包括以下步骤：(1)图像采集，得到图像Image；执行步骤2；(2)通过阈值分割从图像Image得到磁瓦图像Region；执行步骤3；(3)磁瓦图像Region屏蔽边缘区域，得到屏蔽后的图像；执行步骤4；(4)屏蔽后的图像结构张量计算；执行步骤5；(5)缺陷区域提取。本发明从人体视觉的本质出发，结合尺度变换与结构张量完成对磁瓦表面多种缺陷的检测。相比传统检测算法只能针对单一的缺陷，本系统检测算法不仅可以同时检测掉块、磕边和划痕的缺陷，而且还能适应光照在一定范围内变化的情形。此外，本发明检测方法能够满足企业生产的精度与速度需求，且能够稳定的运行，可以进行生产应用。

常见问题

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是的，该专利已下证，法律状态为“已下证”，公开号： CN111210419B

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该专利的转让价格是多少？

当前标价为 15000.0 元，不含过户费。支持议价，可委托平台代购或预约谈判。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

一种基于超分辨率重建的模糊图像分类方法

当前第 / 件

一种防护灯罩及LED灯泡

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