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摘 要:本发明公开了一种基于二值条纹的快速测量方法,首先根据条纹级次分布特点,利用二值投影条纹和掩膜将整个图像分割成两个条纹掩膜,再通过连通域对白色像素点进行阶梯式标记,以此获得条纹左右级次;然后,将左级次和右级次逐像素相加,合并为完整的条纹级次;其次,利用二分之一周期的二值条纹,获得与条纹级次半周期错位的互补级次;最后,根据条纹级次和互补级次实现解相;本发明的方法能够达到消除边沿跳变误差的效果,且投影图像数少,能够在实现高精度测量的同时提升测量速度。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202310227688.6 | 专利名称: | 一种基于二值条纹的快速测量方法 |
申请日: | 2023-03-10 | 申请/专利权人 | 南京信息工程大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 江苏省南京市江北新区宁六路219号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01B11/25搜分类 测量测绘搜索 |
公开/公告日: | 2023-06-20 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN115950378B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |